基于光学温度级，增加了一个电气模块。通过在测试过程中移动针针，针尖可以与样品表面的任何区域接触。电信号通过连接到持针器的接线传输到仪器进行电气测试，并分析材料在可变温度下的电气性能。
固定探针+磁铁探针
● 温度范围：-190 至 600°C，温度
控制精度 ±0.1°C
● 气密室可通过保护气体
● 可升级的真空室 （10-3 mbar）
● 升压和降温，0-60°C/min
● 支持多探头测试（最多 8 个）
● 可升级的三同轴 BNC
● 支持按需定制
温度控制系统
气密 - 保护气体可通过真空 - 泵压力可达 10-3 mbar
透光模式
固定探针 磁性探针
定制光接口定制腔室
液氮消耗
1）最大液氮消耗量为1L/h，保持在-190°C;
2）正常使用0.5L/h，高低温变化。
超低温或高温环境需要水循环系统。
它连接到温度台室
● 对于低至-190度的低温应用，它将防止水凝结
舞台和房间
● 对于高温应用，它将腔室壁冷却到室温以确保安全
水循环系统
（温度控制）
产品规格和手册
产品手册链接：
温度范围选择
低温级：-190 至 600°C
低温可选 -190°C -180°C -160°C -120°C -100°C 室温
高温可选 400°C 600°C
应用 1
● 熊片SPAD（APD）的TCSPC测试解决方案
● 用于封装SPAD（APD）TO46或T08的TCSPC测试解决方案
自由空间熊芯片SPAD TCSPC测试系统
光纤载毛芯片SPAD TCSPC测试系统
用于70K冷却的定制光纤低温台系统
● 定制光纤插入测试室，85度光输出角度。
● 用于光纤对准的俯视图和侧视图可见变焦视觉系统。
● 2个调节探针臂进行电子信号测试，低温台温度可达-77K（LN2）。
实际系统设置
A申请 3
材料光吸收分析
在不同温度 下
大数值孔径高灵敏度
光谱仪
A申请 4
红外透射光谱仪
热拉伸和冷拉伸
A申请 5
OLED材料温度变化测试
A申请 6
半导体材料温度变化试验
光学加热和冷却阶段
XRD温度控制台
电探头温度载物台
电探头温度站
拉伸应变温度阶段
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电探头温度级，温度控制范围 -100 至 400°C，气密室，4 个探头引脚
电探头温度级，温度控制范围-190至600°C，气密室，4个探头引脚
电探头温度级，温度控制范围-190至600°C，气密室，8个探头引脚
电探头温度级，温度控制范围RT至400°C，气密室，4个探头引脚
电探头温度级，温度控制范围RT至1200°C，气密室，4个探头引脚
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