基于光学温度级,增加了一个电气模块。通过在测试过程中移动针针,针尖可以与样品表面的任何区域接触。电信号通过连接到持针器的接线传输到仪器进行电气测试,并分析材料在可变温度下的电气性能。
固定探针+磁铁探针
● 温度范围:-190 至 600°C,温度
控制精度 ±0.1°C
● 气密室可通过保护气体
● 可升级的真空室 (10-3 mbar)
● 升压和降温,0-60°C/min
● 支持多探头测试(最多 8 个)
● 可升级的三同轴 BNC
● 支持按需定制
温度控制系统
气密 - 保护气体可通过真空 - 泵压力可达 10-3 mbar
透光模式
固定探针 磁性探针
定制光接口定制腔室
液氮消耗
1)最大液氮消耗量为1L/h,保持在-190°C;
2)正常使用0.5L/h,高低温变化。
超低温或高温环境需要水循环系统。
它连接到温度台室
● 对于低至-190度的低温应用,它将防止水凝结
舞台和房间
● 对于高温应用,它将腔室壁冷却到室温以确保安全
水循环系统
(温度控制)
产品规格和手册
产品手册链接:
温度范围选择
低温级:-190 至 600°C
低温可选 -190°C -180°C -160°C -120°C -100°C 室温
高温可选 400°C 600°C
应用 1
● 熊片SPAD(APD)的TCSPC测试解决方案
● 用于封装SPAD(APD)TO46或T08的TCSPC测试解决方案
自由空间熊芯片SPAD TCSPC测试系统
光纤载毛芯片SPAD TCSPC测试系统
用于70K冷却的定制光纤低温台系统
● 定制光纤插入测试室,85度光输出角度。
● 用于光纤对准的俯视图和侧视图可见变焦视觉系统。
● 2个调节探针臂进行电子信号测试,低温台温度可达-77K(LN2)。
实际系统设置
A申请 3
材料光吸收分析
在不同温度 下
大数值孔径高灵敏度
光谱仪
A申请 4
红外透射光谱仪
热拉伸和冷拉伸
A申请 5
OLED材料温度变化测试
A申请 6
半导体材料温度变化试验
光学加热和冷却阶段
XRD温度控制台
电探头温度载物台
电探头温度站
拉伸应变温度阶段
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电探头温度级,温度控制范围 -100 至 400°C,气密室,4 个探头引脚
电探头温度级,温度控制范围-190至600°C,气密室,4个探头引脚
电探头温度级,温度控制范围-190至600°C,气密室,8个探头引脚
电探头温度级,温度控制范围RT至400°C,气密室,4个探头引脚
电探头温度级,温度控制范围RT至1200°C,气密室,4个探头引脚
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