IRS Labkit

美国国税局拉布基特 规范

宽带滤光片选项和光学发射与角度

• 补充探测器滤波器
• 消除背景信号并提高信噪比
• 在恶劣环境中
保护红外源• 防止样品气体的寄生影响（用于紧密密封的宽带滤波器安装）

定制反射器

• 使用 Zemax 优化排放分布

真正的黑体辐射（波长从2 μm到14 μm）

高发射率

• 独特的薄膜工艺可创建发射率接近 1 的纯黑体结构。

快速电调制和高调制深度 微机电系统技术 

• 提供实现短时间常数的薄而低质量膜的可能性，使红外源能够以高调制深度在高频下进行调制。

高电输入功率，实现光输出效率

• 由于表面呈黑色，红外光源具有优异的电光转换效率。黑色的体表面保证了最大的发射率，而薄膜则负责优化热通量。

通过热通量模拟优化效率。

MEMS结构的可靠性

•半导体MEMS制造技术保证了红外光源的高可靠性和质量。除了晶圆级制造过程中严格的质量控制体系外，每个红外光源都经过最终的老化和测试。

•红外光源膜破裂的平均失效时间（MTTF）基于对几年可靠性测试中收集的寿命数据的统计分析。膜破损的可靠性在很大程度上取决于封装类型、电输入功率和操作模式。

主要测量原理：

非色散红外（NDIR）原理
非色散红外光谱利用宽带红外光源，覆盖测量各种气体所需的整个波长光谱。测量目标气体所需的特定波长使用窄带通滤光片进行选择。辐射被气体吸收，导致信号减少，这与样品体积内的气体浓度成正比。热电堆或热释电探测器通常用于这种光谱技术。

光声光谱 （PAS） 原理

当红外辐射被吸收时，吸收气体被加热。这种加热会导致热膨胀，这反过来又导致样品体积的压力增加。当辐射关闭时，气体冷却下来，压力相应地降低。使用脉冲红外源，会产生压力波，例如声波，可以用麦克风检测。目标气体的浓度越高（必须使用滤波器选择适当的波长），信号越高。PAS不仅限于气体，还可以应用于液体和固体。

衰减全反射（ATR）原理
当辐射从界面完全反射时，其中一小部分将被传输到相邻介质中。这种倏逝波经历指数衰减，穿透深度按波长顺序排列。耦合到这个倏逝波中的光量取决于两个相邻介质的折射率的差异。在ATR光谱中，由高折射率材料制成的晶体用作光导介质。样品（通常是液体）被接触，以便倏逝波可以与之相互作用。使用窄带通滤光片选择合适的波长。根据样品的状态或质量，或多或少的光被耦合出来，然后检测器上的信号相应地变化。热电堆或热释电探测器的线性阵列经常应用于这些设置中。

产品组合和 小册子

产品手册：  中文   ENGLISH

类型	*WD （顶部）/<20°角电源	宽带滤波器	盖子/反光板	测量原理	产品图片
EMIRS200
TO-39 针座芯片	无准直 / 12%	不	不	NDIR， PAS
TO-39 标准 TO-CAP	无准直 / 12%	不	帽 0-53/40-0	NDIR， PAS
TO-39 薄型 TO-Cap	无准直 / 12.3%	不	帽 0-45/28-0	NDIR， PAS
TO-39 标准反射器 1	5 – 15 毫米 / 60%	是的	参考图片：W-55/40-0	NDIR， ATR
TO-39 标准反射器 2	0 – 7 毫米 / 54%	不	参考图片：W-40/43-0	NDIR， ATR
TO-39 标准反射器 3	10 – 30 毫米 / 82%	是的	参考图片：W-90/151-0	NDIR， ATR
TO-39 标准反射器 4	无准直 / 15.7%	是的	W-36/12-0 灯帽	NDIR， PAS
EMIRS50
TO-46 针座芯片	无准直 / 12%	不	不	NDIR， PAS
TO-46 标准 TO-CAP	无准直 / 12%	不	电容 0-30/25-N-0	NDIR， PAS
TO-46 标准反射器 5	无准直 / 17%	是的	帽 W14/13-0-0	NDIR， PAS
TO-46 标准反射器 6	10 – 30 毫米 / 81%	不	参考图片：W57-50-M-00	NDIR， PAS
TO-46 标准反射器 7	5 – 20 毫米 / 90%	不	参考图片：W30-41-M-00	NDIR
定制化产品	定制	定制	定制	NDIR， PAS， ATR

电气/光学特性

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